
XAD-200是一款全元素上照式全自动X荧光光谱仪,既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足RoHS有害元素检测及成分分析,搭载全自动平台实现三维坐标编程位移,实现无人值守多点测量,测量软件置入公司自研的EFP算法及解谱技术,解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,最小测量面积达0.03mm²
拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm
核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度)
配备全自动可编程移动平台,可实现无人值守,对成百上千个样品进行全自动检测
涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92)
成分分析范围:铝Al(13)- 铀U(92)
RoHS、卤素有害元素检测
人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作
标配四准直器自动切换
配有微光聚集技术,最近测距光斑扩散度小于10%






所在地区: 江苏省苏州市昆山市
企业介绍:江苏一六仪器有限公司是一家以聚焦核心科技、打造民族精品为使命,研发和制造高端分析仪器的高新技术企业。公司现有专用高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体全能X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器,可广泛的应用于新能源、半导体、精密电子、环保rohs、地质地矿、电子元器件、贵金属行业、五金卫浴、5G通讯、电镀产业、航空航天等行业领域。拥有专业的研发团队,开创了全新一代EFP核心算法,开发了高集成的四焦技术、闭环移动控制及AI影像识别。为微小面积、异形高低面、多层多元素与不同层同元素的检测提供稳定高效的无损自动检测解决方案。